<mark id="s8oqt"><u id="s8oqt"></u></mark>
    <mark id="s8oqt"><u id="s8oqt"></u></mark>
    點擊這里給我發消息
    點擊這里給我發消息
    點擊這里給我發消息
    點擊這里給我發消息
    ·設為首頁  
      ·加入收藏  
     ·繁體中文  
    產品系列
    激光系列產品
    光譜測試儀器
    光學精密機械
    光源
    光學影像
    探測器
    光學元件
    光通信儀器
    生物分析儀器
    石墨烯系列產品
    信號發生器
    紅外熱像
    納米位移平臺
    光催化光源/光化學
    太赫茲-微波-射頻產品
    產品搜索
    聯系我們

    長春海洋光電有限公司


    地    址:長春高新區繁榮路5099號
    電    話:0431-89561560
    傳    真:0431-85956117
    辦公電話:0431-81183661
    電子郵箱:info@ocean-optical.com

      產品展示
     
     激光系列產品 >> 激光測試測量儀器 >> Hi-Q光學測試測量系統
     
    產品編號:
    5514593416
    產品名稱:
    Hi-Q光學測試測量系統
    規  格:
    產品備注:
    產品類別:
    激光系列產品
     
       產 品 說 明

    美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了完全自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲,評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

    該系統在寬帶測量方面是獨一無二的,它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度,且無需附加額外的測試設備。這臺獨一無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段,并用于低相對強度噪聲測量。

     

    特點

    超低相位/頻率噪聲測量

    快速實時測量

    即刻和擴展的FWHM線寬分析

    需要低噪聲參考光源

    用戶友好界面

    簡單的基于PC的操作

    ▪ 3U x 19英寸機架系統

    可定制的配置、升級和選項

     

    光學測試測量系統

    型號

    OE4000

    波長

    1530 – 1565 nm

    動力學范圍

    60dB

    光學輸入功率范圍

    +5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

    測量類型

    頻率噪聲/零差相位

    數據存儲與I/O

    HDD / USB端口

    帶寬分辨率

    0.1 Hz – 200 kHz

    電源電壓

    110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz

    光學測試測量系統尺寸

    3U x 19英寸機架式

    低或高輸入功率范圍

    可選

    波長范圍(可選)

    740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)

    (選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢)

     

    可選擇的配置

    630 nm  -  2200 nm范圍內多個輸入波段

    超低噪聲基底

    相對強度噪聲測量

    擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz

    擴展的輸入功率范圍

    遠程操作

    性能和頻率

    定制范圍選擇和升級

     

     

    點擊數:1710  錄入時間:2019/5/5 【打印此頁】 【關閉
     
     
     

    友情鏈接: 長春光機所    武漢大學    北京大學    中國科技大學    吉林大學   

     2010 版權所有 長春市海洋光電有限公司
    電話:0431-89561560 網址:www.hongci09.cn 

    ICP備案編號:ICP備11002221號-1

    毛色毛片免费观看